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Test equipment

测试设备的贡献者

Test equipment

主要输入

半导体; 测试设备

一种装置,从外面的世界的物理输入可以是信号输入、 扫描链输入等 (注: 在 SOC 中的核心,外面的世界仍然可能在芯片的内部)。

主输出

半导体; 测试设备

物理输出到外面的世界从一种装置,可以将一个信号输出、 扫描链输出等 (注: 如在 soc 芯片中的核心,外面的世界仍然可能在芯片的内部)。

故障覆盖率

半导体; 测试设备

为测试或基于百分比的测试集的质量措施实际上检测故障 (缺陷) 与理论上检测到故障,特定故障模型的总数。 覆盖图,应为每个测试的模型类型。 运算符定义节点,以评估 (在某些情况下,这通过在任务中定义链表的节点不用来完成) 的原料数量具有小意义没有一套全面的分析。 ...

多站点

半导体; 测试设备

是指在单个测试头上的多个测试站点。

绽放

半导体; 测试设备

光传感元素在电视镜头中的饱和度。 开花导致相机的最大亮度级的剪辑。

全扫描

半导体; 测试设备

扫描在存储器元件 (触发器) 都是可扫描设计中的结构 (执行)。

部分扫描

半导体; 测试设备

扫描的结构 (执行) 只有一部分存储元素 (触发器) 在哪里可扫描。

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