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Test equipment

测试设备的贡献者

Test equipment

背景

半导体; 测试设备

在一台个人电脑、 编程操作,而无需直接操作者干预 ; 发生例如,网络操作、 打印和显示刷新。

前景色

半导体; 测试设备

在个人计算机中,活动的直接操作员干预。活动可能会在计算机同时运行的背景。

AC 扫描

半导体; 测试设备

扫描测试应用程序,只有采样间隔是在指定的操作频率所需以核实计时性能,以及结构内容的形式。的扫描数据可能会被转移,在不同的频率 (通常速度较慢)。AC 扫描允许速度较慢的测试人员来加以利用,并且不将设计,以便能够在速度上不必要的限制。 ...

在速度扫描

半导体; 测试设备

扫描数据转移和样品发生在额定频率操作的形式。结构和计时性能可以既验证这种扫描测试。

直流扫描

半导体; 测试设备

扫描设备正常工作频率低于转移和取样的发生位置的窗体。这种类型的扫描是有效的 '纯' 的结构方法 (即 为被困在故障) 和一般情况下,计时性能一定不能验证此类型的扫描。 ...

数据采集 (DAQ)

半导体; 测试设备

从传感器和变送器的来源收集信息。

边界扫描

半导体; 测试设备

IEEE 1149.1 通用术语。它是一种方法允许完全能控性和能观测性边界 (I/O) 引脚通过一个标准接口,。(AKA JTAG)

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