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Test equipment

行业： 半导体

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颜色条
半导体; 测试设备

标准测试模式的完全饱和的颜色 （红色、 绿色、 蓝色、 洋红色、 青色、 和黄色） 加上黑色和白色的显示屏幕上。

标准测试界面语言 （STIL）
半导体; 测试设备

燕姿是一个新兴的标准，用于测试开发。 大多数 EDA 工具如何支持它作为输出格式。 无 ATEs 目前 STIL 直接支持，然而因为 STIL 是丰富的功能比 WGL，行业趋势是燕姿的全力支持。 一些测试最终可能支持 STIL 作为他们的母语测试语言。 ...

结构试验
半导体; 测试设备

测试策略的集成电路制造缺陷检测的重点。 与不同的功能或行为测试、 缺陷直接以目标。

自我测试使用 MISR 和平行的秘书长特别代表 (残)
半导体; 测试设备

树桩是一种常见的 BIST 结构，结合办学 （或多个秘书长特别代表），多扫描链和 MISR。

缺陷
半导体; 测试设备

术语，用来引用特定的 flaw(s) ；物理或化学的缺欠，制造的设备上。 大多数缺陷可以检测并测定失效分析组。 如预期般，不执行的特定设备包含缺损或有设计上的缺陷。 ...

洗涤槽电压 （有效负载）
半导体; 测试设备

在作为当前接收器 DUT 的端电压。

源极电压 （有效负载）
半导体; 测试设备

在作为电流源 DUT 的端电压。

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