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Test equipment

测试设备的贡献者

Test equipment

测试访问端口 (TAP)

半导体; 测试设备

JTAG 标准的一部分,水龙头是 4 (或 5 (可选) 的针端口,使边界扫描。

IDDQ

半导体; 测试设备

静止电源电流 (IDD)。理论上,静态 CMOS 逻辑应该有近零电流时时钟停止。这种方法将芯片放入不同的逻辑状态,停止时钟和电源电流的措施。

矢量

半导体; 测试设备

1.一个平行矢量是指在一个时钟周期内适用于DUT的逻辑功能。

X.25

半导体; 测试设备

以CCIT的標準描述包交换网络如何处理数据

比較器

半导体; 测试设备

線路輸出是數碼邏輯水平,這視乎輸入訊號是高是低的舊翻滾於特定時間間隔。

编码集

半导体; 测试设备

贮于档案内的程序、数据或其他资料集,供用户在进行测试程式等项目时援引使用。

事件计数器

半导体; 测试设备

一种计算某一状态的出现次数的电路。

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