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Test equipment

测试设备的贡献者

Test equipment

多个输入的移位寄存器 (MISR)

半导体; 测试设备

也称为多个输入签名登记。MISRs 是简单地作为签名分析仪配置的 LFSRs。MISRs 通常用于在后端的 BIST 引擎上捕获和压缩从下测试电路的输出序列。

内存内置自检 (MBIST)

半导体; 测试设备

BIST 是特定的内存测试的方法。

假彩色

半导体; 测试设备

添加到要提请注意不容易察觉的细节或创建特殊效果的图像的颜色。

接收器电流 (活动负载)

半导体; 测试设备

常规 DUT 与积极作为上拉负载电流流入。

电流源 (源负载)

半导体; 测试设备

常规的当前流出 DUT 与作为下拉菜单的活动负载。

设计 (DFM) 制造

半导体; 测试设备

术语用来定义活动做设计过程中 (由设计师),以确保将创建产品的 Fab 进程设计进行了优化。

设备 (DUT) 测试下

半导体; 测试设备

这是正在进行测试的目标设备。较不频繁地被称为"切"(根据测试电路)。

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